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PA80MET大平臺顯微鏡采用無限遠色差較正CCIS光學系統，像質較好，功能齊全，使用方便，適合在偏光下對各種礦物及其試樣薄片的鑒定及研究。

APO物鏡 探針臺顯微鏡全新的一體化設計，具有優異的光學成像質量，方便使用的正像光學系統，是理想的檢測半導體器件的工具，支持3種激光波長，可在半導體和液晶基板中使用激光切割和薄膜技術。可以廣泛應用于半導體、電子、冶金等行業的制造和研究領域。

PSM-1000探針臺顯微鏡具有優異的光學成像質量，方便使用的正像光學系統，是理想的檢測半導體器件的工具，支持3種激光波長，可在半導體和液晶基板中使用激光切割和薄膜技術。可以廣泛應用于半導體、電子、冶金等行業的制造和研究領域。

AE2000Met 金相顯微鏡集合明、暗場、偏光等觀察方法，滿足用戶對晶粒度，球化率等多種專業金相分析需求，廣泛適用于金屬、礦物等多種領域。

BA310Met-H金相顯微鏡是電子、金屬材料、礦物、地質、精密工程等檢 查、分析及研究的儀器，適用于教學、科 研、工業等領域。

BA310Met-T金相顯微鏡是電子、金屬材料、礦物、地質、精密工程等檢 查、分析及研究的儀器，適用于教學、科 研、工業等領域。

BA310Met金相顯微鏡是電子、金屬材料、礦物、地質、精密工程等檢 查、分析及研究的儀器，適用于教學、科 研、工業等領域。

PantheraTEC金相顯微鏡具有出色的成像性能，安裝在5孔編碼轉換器上的每個目標鏡頭的光強能夠自動記憶。